壓電納米定位技術為MEMS和光電子設備的測試與制造提供大量的創新解決方案，產品范圍從用于工業自動化的自動6D對準系統到簡單的實驗室裝置。特有的壓電驅動裝置使亞毫秒的快速掃描響應成為可能。

       在該領域，壓電納米定位產品的具體應用包括光纖或光纖陣列的自動對準、用于MEMS和多通道波導器件的測試系統等。

       硅光子學(SiP)對于滿足世界對數據的需求至關重要。 壓電納米定位系統開創性的新工業技術正使之成為現實。無論是測試還是包裝，納米定位系統都可助其SiP制造商及其原始工具設備制造商高效可靠地測試和包裝該新一代光子學設備，且可實現所需的納米級高精度和高產量。做到這一點的關鍵之處在于，在多個互動輸入輸出和自由度之間，可同時進行自動化快速對準，通常能在幾百毫秒以內實現全局優化。 由于這種內在并行性，之前需用來確定多通道SiP部件的方向以進行測試和包裝的耗時迭代方法已被淘汰，由此節約的時間可超兩個數量級。由于不同的設備和產品應用呈現出不同的要求，研生的納米定位系統模塊化架構提供多種方案，幾乎能滿足所有產品測試和包裝需求。